第四代半導(dǎo)體技術(shù)研討會于5月16日在杭州寶盛水博園大酒店圓滿結(jié)束。此次會議聚焦氧化鎵、金剛石、氮化鋁三大核心材料展開廣泛地交流與探討，共同推動第四代半導(dǎo)體材料和相關(guān)器件的技術(shù)突破和產(chǎn)業(yè)化進程。

優(yōu)尼康攜Filmetrics F20光學(xué)膜厚測量儀、FS-RT300 多波長橢偏儀前來參展，現(xiàn)場觀展氛圍火熱，有不少了解膜厚儀與橢偏儀的客戶前來主動交流探討薄膜測量。