FilmSense FS-8 多波長橢偏儀
FilmSense FS-8 多波長橢偏儀產(chǎn)品介紹:
第四代FilmSense FS-8 多波長橢偏儀使用長壽命的LED光源和無移動(dòng)部件的橢圓偏振探測器。在便攜的緊湊型系統(tǒng)中提供快速而可靠的薄膜測量。通過簡單的1秒測量,可以以很高的精度和準(zhǔn)確度測定大多數(shù)透明薄膜的薄膜厚度和折射率,并對樣品進(jìn)行光學(xué)常數(shù)、n&k值等薄膜性質(zhì)的測量。
FilmSense FS-8 多波長橢偏儀產(chǎn)品特點(diǎn)優(yōu)勢:
多個(gè)LED光源:4或8個(gè),波長370-950nm,視系統(tǒng)而定
一體化設(shè)計(jì):橢圓偏振探測器中無可移動(dòng)部件
光源壽命長:>50,000小時(shí)),沒有耗時(shí)的對準(zhǔn)或PM程序
測量速度快:10ms內(nèi)的多波長數(shù)據(jù)
使用維護(hù)簡單:直接用瀏覽器即可訪問軟件界面,沒有復(fù)雜的軟件和維護(hù),無外部電子設(shè)備盒或光纖連接。
FilmSense FS-8 多波長橢偏儀產(chǎn)品測量原理:
FilmSense FS-8 多波長橢偏儀是利用薄膜的光學(xué)特性進(jìn)行膜厚測量的非接觸測量方法?;谄窆夥瓷浠蛲干鋾r(shí)的狀態(tài)變化來測量薄膜的厚度和折射率。當(dāng)偏振光照射到薄膜表面時(shí),反射光或透射光的偏振狀態(tài)會發(fā)生變化,這種變化依賴于薄膜的厚度、折射率以及入射光的偏振狀態(tài)和角度。通過分析這些變化,可以準(zhǔn)確地推導(dǎo)出薄膜的厚度。
FilmSense FS-8 多波長橢偏儀產(chǎn)能力和表現(xiàn):
FilmSense FS-8 多波長橢偏儀在測量透明單層薄膜的厚度和折射率方面表現(xiàn)良好。上限厚度取決于橢偏儀系統(tǒng)(通常為2-5μm),但也取決于基底和薄膜的光學(xué)常數(shù)。與其他橢偏儀系統(tǒng)一樣,為了獲得準(zhǔn)確的折射率測量結(jié)果,需要有較小薄膜厚度(通常為10nm)。
也可以測量光吸收薄膜,但由于需要薄膜光學(xué)常數(shù)(n和k值),數(shù)據(jù)分析變得更加復(fù)雜。FilmSense軟件包含多種確定n&k值的方法價(jià)值:
多樣本分析;
結(jié)合橢偏儀和透射率測量;
使用新型液體樣品池選項(xiàng)的浸入式橢偏儀;
分散模型。吸收膜的厚度上限與材料類型密切相關(guān);對于金屬膜,上限通常為50納米。
FilmSense FS-8 多波長橢偏儀還可用于測量多層薄膜疊層(有時(shí)多達(dá)5層),具體取決于各層的厚度和折射率??梢栽?/span>FilmSense軟件中進(jìn)行模擬,以確定特定樣品結(jié)構(gòu)是否可行。對于某些樣品,還可以表征薄膜中的表面粗糙度和折射率梯度。
FilmSense FS-8 多波長橢偏儀波長對比:
Wavelength(nm) | ||||||||||
System | Number ofWvls | 370 | 405 | 450 | 525 | 595 | 660 | 735 | 850 | 950 |
FS-1(gen.2&3) | 4 | X | X | X | X | |||||
FS-1EX(gen.2&3) | 6 | X | X | X | X | X | X | |||
FS-4(gen.4) | 4 | X | X | X | X | |||||
FS-8(gen.4) | 8 | X | X | X | X | X | X | X | X |
FilmSense FS-8 多波長橢偏儀產(chǎn)品參數(shù):
裝樣方式: | 手動(dòng) | 入射角: | 65° |
光束尺寸: | 4*9mm | 樣品尺寸: | 200mm |
占地面積: | 180*400mm | 重量: | 5kg |